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J-GLOBAL ID：200903061048264705

化学状態の分析方法

Inventor： 飯原 順次
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 川瀬 茂樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996283294
Publication number (International publication number)：1998111261
Application date： Oct. 04, 1996
Publication date： Apr. 28, 1998
Summary：

【要約】【目的】 原子A、B、Cが存在する試料において、原子AがAB結合しているかAC結合しているか?あるいは結合ABがどれだけの割合で存在するか?を求めること、さらに表面だけでなく試料の内部までの化学状態を調べる。【構成】 X線、陽子線を試料に照射し、外殻軌道内殻軌道間の遷移によるX線強度を測定しこれによってAB結合の存在確率を求めることができる。内殻軌道間の遷移によるX線強度によって割る事によりX線発生装置、分光器の特性によらない相対値を得る事ができる。

Claim (excerpt)：

少なくとも3種類の原子A、B、Cを含む可能性のある試料において、化学結合AB、ACの存在比率を求める方法であって、X線又は陽子線を試料に照射し、原子Aの外殻準位E2 と内殻準位E1 の間の電子遷移によって発生する特性X線の強度を求め、100%AB結合の値Σ(AB)と、100%AC結合の値Σ(AC)を定めておき、任意の化学状態をもつ試料の特性X線のスペクトルから同じ特性X線の強度Σを求めてΣ=bΣ(AB)+cΣ(AC)から(b+c=1)、結合AB:結合ACの比b:cを求めるようにした事を特徴とする化学状態の分析方法。