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J-GLOBAL ID：200903061205900416

超音波診断装置およびエッジ強調処理装置

Inventor：
鈴木 陽一

About 鈴木 陽一


Applicant, Patent owner：
ジーイー横河メディカルシステム株式会社

About ジーイー横河メディカルシステム株式会社


Agent (1)： 有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996028975
Publication number (International publication number)：1997220227
Application date： Feb. 16, 1996
Publication date： Aug. 26, 1997
Summary：
【要約】【課題】 超音波エコーに基づく検波信号のレベルにアダプティブなエッジ強調処理を行う。【解決手段】 エッジ強調処理部10において、レベル判定部11は、超音波エコーに基づく検波信号Pのレベルに応じたアドレス信号Qを出力する。重み出力部12は、アドレス信号Qに応じた重みK1,Kaを出力する。エッジ強調回路13は、検波信号Pに対してエッジ強調を施し、エッジ強調信号ENを出力する。乗算器14,15および加算器16は、エッジ強調信号ENを検波信号に荷重加算し、音線信号G(=K1×EN+Ka×P)を生成する。【効果】 荷重加算の重みを適切に設定することにより、エッジ強調の度合いを柔軟に変化させることが出来る。
Claim (excerpt)：
超音波エコーに基づく検波信号に対してエッジ強調を施すエッジ強調手段と、そのエッジ強調手段の出力を前記検波信号に荷重加算する荷重加算手段と、前記検波信号のレベルを判定するレベル判定手段と、そのレベル判定手段の判定結果に応じて前記荷重加算の重みを発生し前記荷重加算手段に与える重み出力手段とを具備したことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (4)：
A61B 8/00 ,  G01N 29/06 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/00
FI (4)：
A61B 8/00 ,  G01N 29/06 ,  G06F 15/62 390 D ,  G06F 15/68 310 J
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-019181   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 特開平1-261083

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