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J-GLOBAL ID：200903061284611424

高分子電解質多層カプセルの制御された持続性の放出特性

Inventor： アレクセイ アンティポフ ,  エウリディス ヴィエイラ ,  ジェマ イバルス ,  グレーブ スホルコフ ,  ラルス デーネ ,  チャンユー ガウ ,  エドウィン ドナート ,  ヘルムート メーヴァルト
Applicant, Patent owner： マックス-プランク-ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・エー・ファオ
Agent (5)： 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  ラインハルト・アインゼル
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002522862
Publication number (International publication number)：2004507488
Application date： Aug. 28, 2001
Publication date： Mar. 11, 2004
Summary：

反対電荷を有する高分子電解質のLbLアセンブリ法をフルオレセイン粒子の被覆のために適用した。4〜9μmを有するこれらの粒子はpH2でフルオレセインの堆積により製造した。ポリスチレンスルホネート(PSS)およびポリアリルアミン(PAH)を使用して高分子電解質シェルをフルオレセインコア上に作製した。高分子電解質シェルを通過するコアの溶解によるフルオレセイン分子の放出は、蛍光強度の増大によりpH8で観察された。蛍光放出を維持するために十分な高分子電解質層の数は、8〜10であることが判明した。引き続き吸収された層はコア溶解時間を数分間延長した。厚さ20nmの高分子電解質多層の透過率は約10-8m/sであった。蛍光拡散のメカニズムおよび浸透圧により支持される放出を論じる。放出プロファイルおよび封入された材料のための放出特性を制御するためにシェル形成のためのLbL法の可能な適用の概要を示す。pH、温度および塩濃度の周囲条件もまた高分子電解質多層カプセルの透過性を制御するために変更した。

Claim (excerpt)：

高分子電解質多層カプセルの透過性を制御するための方法において、pH、温度、光、塩濃度、イオン組成、イオン濃度、イオン強度、溶剤組成または溶剤濃度のパラメータの少なくとも1つを、カプセルの製造、貯蔵および/または使用の間に調節および/または変更することを特徴とする、高分子電解質多層カプセルの透過性の制御方法。

IPC (5)：

A61K9/52 ,  A61K47/26 ,  A61K47/36 ,  A61K47/42 ,  A61K47/44

FI (5)：

A61K9/52 ,  A61K47/26 ,  A61K47/36 ,  A61K47/42 ,  A61K47/44

F-Term (7)：

4C076AA67 ,  4C076EE13H ,  4C076EE14H ,  4C076EE30H ,  4C076EE41H ,  4C076FF31 ,  4C076GG29

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭61-274738
  
• 特開平2-261535