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J-GLOBAL ID：200903061351333795

同時較正不均質イムノアツセイ

Inventor： デビツド・ジエイ・リトマン ,  エドウイン・フツシヤー・ウルマン
Applicant, Patent owner： シバ・カンパニー
Agent (1)： 小田島 平吉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991261174
Publication number (International publication number)：1993209886
Application date： May. 02, 1983
Publication date： Aug. 20, 1993
Summary：

【要約】【構成】 支持体、多孔質材料の測定第1表面:該第1表面の近傍の多孔質材料の較正第2表面;該第1表面に非拡散的に結合した特異的結合対員;及び該第2表面に非拡散的に結合した酵素又はmipの少なくとも1つ、を含むことを特徴とする内部較正式の診断装置。【効果】 較正表面(基準表面)が測定表面に近接して設けられているため、測定表面と較正表面とが同時に同様の測定状条の影響(温度時間、異物など)を受けるので、外因による測定誤差が生じない。

Claim (excerpt)：

支持体、多孔質材料の測定第1表面;該第1表面の近傍の多孔質材料の較正第2表面;該第1表面に非拡散的に結合した特異的結合対員;及び該第2表面に非拡散的に結合した酵素又はmipの少くとも1つ、を含むことを特徴とする内部較正式の診断装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭54-086611
  
• 特開昭57-063454