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J-GLOBAL ID:200903061405560180

高融点金属層のCVD方法およびそのCVD装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 光男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994062805
Publication number (International publication number):1995273046
Application date: Mar. 31, 1994
Publication date: Oct. 20, 1995
Summary:
【要約】【目的】 ブランケットCVDにより、W等高融点金属層を接続孔内に埋め込む際のボイドを防ぎ、表面モホロジを改善するCVD方法および装置を提供する。【構成】 接続孔3を含む被処理基板上全面に1×1011〜1×1013/cm3の高密度プラズマCVD装置により、基板バイアスを印加しながら高融点金属層6を堆積する。プラズマCVD前に、同一チャンバ内で希ガスによるスパッタ前処理を施しTi層4とTiN層5のオーバーハング部分の形状修正を行ってから高融点金属層6を堆積してもよい。【効果】 ソースガスは反応性の高い活性種となるのでWの成長核が均一に形成され、高アスペクト比の接続孔内部でも成長速度が均一となり、ボイド発生は防止される。また表面マイグレーション効果を利用して平滑な表面を形成できる。
Claim (excerpt):
被処理基板にRFバイアスを印加しつつ、プラズマCVD法により高融点金属層を形成することを特徴とする、高融点金属層のCVD方法。
IPC (3):
H01L 21/205 ,  H01L 21/285 301 ,  H01L 21/768
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 薄膜の形成方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-301028   Applicant:ソニー株式会社
  • 特開平3-047965
  • 特開平3-047965
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