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J-GLOBAL ID:200903061502335540

シンチレーション検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993005844
Publication number (International publication number):1994214035
Application date: Jan. 18, 1993
Publication date: Aug. 05, 1994
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、β線強度のみを測定できるシンチレーション検出装置を提供することを目的とする。【構成】 プローブ部(10)には発光波長の異なる2つのシンチレーションファイバ(11、12)が備えられ、一方のシンチレーションファイバ(12)はβ線遮蔽物で被覆されている。プローブ部(10)で発生した光信号は、光ファイバ(20)を伝送して、分光手段(31)によって分光される。そして、分光された光信号の内の一方は第1の光検出手段(32)に入射され、入射光の光強度が検出される。また、分光された光信号の内の他方は第2の光検出手段(33)に入射され、入射光の光強度が検出される。
Claim (excerpt):
発光波長の異なる2つのシンチレーションファイバを光学的に結合して、一方のシンチレーションファイバをβ線遮蔽物で被覆したプローブ部と、前記プローブ部の一方の端面と光学的に結合して、前記プローブ部で発生した光信号を伝送する光ファイバと、前記光ファイバから出射した光信号を波長ごとに分光する分光手段と、前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されたシンチレーションファイバからの光信号を検出する第1の光検出手段と、前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されていないシンチレーションファイバからの光信号を検出する第2の光検出手段とを備えることを特徴とするシンチレーション検出装置。
IPC (2):
G01T 1/20 ,  G01T 1/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特許第5008546号
  • 特開昭60-161577

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