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J-GLOBAL ID：200903061536293617

質量分析計のイオン源

Inventor： 内田 稔 ,  松村 和美
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991211857
Publication number (International publication number)：1993054851
Application date： Aug. 23, 1991
Publication date： Mar. 05, 1993
Summary：

【要約】【目的】液体クロマトグラフと液体クロマトグラフより流出した試料を噴霧するためのプローブなどで構成される質量分析計のイオン源において、前述の液体クロマトグラフよりの試料の流量の変化にかかわり無く、常に安定したイオン化条件を得ることと、試料イオンの質量分析計における感度が、常に最大となることを供給することを目的とする。【構成】本発明は、液体クロマトグラフ1,テフロンチューブ2,チッソガス3,プローブ4,プローブ用電源5,第一細孔6,第二細孔7,ドリフト電源8,加速電源9,質量分析部12,調節手段13,検出器14、等で構成される。

Claim (excerpt)：

液体クロマトグラフと、液体クロマトグラフより流出した試料を霧化するためのプローブと、前記霧化した試料を高電位とする為の電源と、前記プローブより噴霧された試料を低真空部へ導くための第一細孔と、第一細孔を通過した試料をさらに高真空部へ導くための第二細孔と前記第一細孔と、第二細孔との間に電位差を設けるための電源を備えた質量分析計のイオン源において、前述のプローブと第一細孔の間の電界が、常に一定となるように調節する調節手段を設けたことを特徴とする質量分析計のイオン源。

IPC (3)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭62-098550
  
• 特開平1-315940
  
• 特開昭50-100498
  
• 特開平2-098662