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J-GLOBAL ID：200903061542859584

検量線作成方法および自動分析装置

Inventor： 佐藤 剛
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993266043
Publication number (International publication number)：1995120381
Application date： Oct. 25, 1993
Publication date： May. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】より広い範囲に渡って多点検量を行えること及び、より複雑な形状の検量線を作成することが可能な、検量線作成方式を提供すること。【構成】キャリブレーション時の測定物理量3を、CPU4中の演算部5に並列に設置された関数方程式毎の複数の演算子6において、検量線作成範囲全体の近似計算を行い、区間ごとに、任意もしくはある基準を伴う評価方法により最適な関数方程式を、記憶部8に記憶し、患者血清等の試料の分析時に、演算部5からの情報により、区間ごとの最適な関数方程式の組合せの情報を演算部5に与えて混合型検量線の機能を発揮させる。【効果】測定精度の向上及び測定領域の拡大をすることができ、測定領域を逸脱した試料を希釈する等、再検査の手間及びそれに係るコストを低減できる。

Claim (excerpt)：

幾つかの異なる関数を混合することによって近似することを特徴とする検量線作成方法。

IPC (6)：

G01N 21/27 ,  G01N 31/00 ,  G01N 33/536 ,  G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543 581 ,  G01N 35/00