Pat
J-GLOBAL ID:200903061674375551
印刷検査方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999149670
Publication number (International publication number):2000335062
Application date: May. 28, 1999
Publication date: Dec. 05, 2000
Summary:
【要約】【課題】 高速・高精度で印刷物を検査する印刷検査方法を提供する。【解決手段】 印刷物(被検査物)のパターンを取り込み、検査画像として記憶する。基準画像から検査画像を減算処理して付加欠陥検出信号を検出し、また、検査画像から基準画像を減算処理して、欠如欠陥検出信号を検出する。次に、付加欠陥検出信号または欠如欠陥検出信号について、基準画像の画像境界部に設定した基準画像マスク、または、検査画像の画像境界部に設定した検査画像マスクを用いて、マスク処理をし、各種の印刷不良(異物、詰まり、欠け、欠損)を検出する。
Claim (excerpt):
あらかじめ基準パターンを記憶しておき、被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶し、前記基準画像の画像境界部にマスクを作成し、基準画像マスクとして設定し、前記基準画像から前記検査画像を減算処理し、得られた検出信号に対して、基準画像マスク処理を施し、残った信号より付加欠陥についての品質を判定する印刷検査方法。
IPC (3):
B41J 29/46
, G01N 21/88
, G06T 7/00
FI (3):
B41J 29/46 C
, G01N 21/88 J
, G06F 15/62 410 A
F-Term (22):
2C061KK22
, 2C061KK25
, 2C061KK26
, 2C061KK28
, 2G051AA34
, 2G051AB11
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051DA02
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051ED01
, 2G051ED07
, 2G051FA10
, 5B057AA12
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DC33
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