微粒子測定方法及び装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (5)：志賀正武 , 高橋詔男 , 渡邊隆 , 青山正和 , 柳井則子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005218016
Publication number (International publication number)：2006064694
Application date： Jul. 27, 2005
Publication date： Mar. 09, 2006
Summary：

【課題】試料液を流すための管内の汚れや、サンプル流量が少なすぎるための時間遅延が生じず、さらにシート状のビームを照射してその散乱光強度から微粒子を検出するため試料液中に含まれる微粒子の数え落しの確率を低くすること。【解決手段】試料液の液面上部空間に配置され、面状の検出可能領域を試料液中に形成するシート状の検出光ビームを照射する光照射手段と、前記液面上部空間に配置され、前記検出可能領域内の全部または一部に存在する微粒子からの散乱光を微粒子毎に検出する散乱光検出手段と、前記散乱光検出手段の検出出力から前記微粒子の粒径及び粒子数を算出する演算処理手段とを有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料液の液面上部空間に配置した光照射手段より、所定波長のシート状の検出光ビームを、上部空間から見て面状の検出可能領域が試料液中に形成されるように照射し、該検出可能領域内の全部または一部に存在する微粒子からの散乱光を、前記液面上部空間に配置した散乱光検出手段により微粒子毎に検出し、該検出出力から演算処理手段により前記微粒子の粒径及び粒子数を算出することを特徴とする微粒子測定方法。

IPC (2)：

G01N 15/02 , G01N 15/14

FI (2)：

G01N15/02 B , G01N15/14 P

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

フロー式粒子画像解析方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-250615 Applicant：株式会社日立製作所

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