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J-GLOBAL ID:200903061808575684

ラジオ・ルミネッセンスを利用したin-situ高耐久性高感度放射線照射領域解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  平山 晃二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003390372
Publication number (International publication number):2005156158
Application date: Nov. 20, 2003
Publication date: Jun. 16, 2005
Summary:
【課題】 放射線照射による照射像の三次元的な形状を、長寿命の素子で、簡便に、in-situで計測することを目的とする。【解決手段】 放射線照射により得られる照射像の三次元的な形状を解析する方法であって、放射線蛍光特性を示す遷移金属を三次元的に含有させた耐熱性ターゲットに放射線を照射して、発せられる蛍光を計測することを特徴とする方法。耐熱性ターゲットは、異なる放射線蛍光特性を示す複数種の遷移金属を含有することができる。耐熱性ターゲットは金属酸化物又はセラミックスであり、遷移金属はクロム又は亜鉛である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
放射線照射により得られる照射像の三次元的な形状を解析する方法であって、放射線蛍光特性を示す遷移金属を三次元的に含有させた耐熱性ターゲットに放射線を照射して、発せられる蛍光を計測することを特徴とする方法。
IPC (5):
G01N21/62 ,  G01B15/04 ,  G01T1/20 ,  G21K5/04 ,  H01J37/252
FI (6):
G01N21/62 A ,  G01B15/04 ,  G01T1/20 K ,  G21K5/04 C ,  H01J37/252 B ,  H01J37/252 Z
F-Term (32):
2F067AA53 ,  2F067DD02 ,  2F067DD05 ,  2F067EE05 ,  2F067EE18 ,  2F067HH06 ,  2F067HH08 ,  2F067HH09 ,  2F067KK01 ,  2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA03 ,  2G043EA01 ,  2G043FA07 ,  2G043JA01 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043NA01 ,  2G088EE21 ,  2G088EE30 ,  2G088FF12 ,  2G088FF13 ,  2G088FF14 ,  2G088FF15 ,  2G088GG10 ,  2G088GG17 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK33 ,  2G088KK35 ,  5C033QQ07 ,  5C033RR10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 特開平3-115957
  • 特開昭62-287133
  • 特開昭48-080089
Cited by examiner (6)
  • 特開平3-115957
  • 特開平3-115957
  • 特開昭62-287133
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Article cited by the Patent:
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