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J-GLOBAL ID：200903061818645478
赤外線分析用サンプル作成方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山口 邦夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994026783
Publication number (International publication number)：1995234179
Application date： Feb. 24, 1994
Publication date： Sep. 05, 1995
Summary：
【要約】【目的】微弱な赤外線吸収ピークや厚い試料、透過し難い試料等の赤外線吸収ピークを鮮明に得ることが可能な赤外線分析用サンプル作成方法を提供する。【構成】微小固体材料を赤外線分析するための赤外線分析用サンプル作成方法であって、上記微小固体材料を光透過性に優れ成形容易な板状窓材に挟み、該窓材ごと上記微小固体材料を加圧する。
Claim (excerpt)：
微小固体材料を赤外線分析するための赤外線分析用サンプル作成方法であって、上記微小固体材料を光透過性に優れ成形容易な板状窓材に挟み、該窓材ごと上記微小固体材料を加圧することを特徴とする赤外線分析用サンプル作成方法。
IPC (3)：
G01N 1/28
, G01N 21/03
, G01N 21/35
