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J-GLOBAL ID：200903061978122773

均一粒状物質の個数判定法

Inventor： 加藤 清一
Applicant, Patent owner： 積水化学工業株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995065683
Publication number (International publication number)：1996261913
Application date： Mar. 24, 1995
Publication date： Oct. 11, 1996
Summary：

【要約】【目的】 均一粒状物質の粒子の一部分が重なりあっている場合でも、その粒子個数を高精度で確実に判定することができる均一粒状物質の個数判定法を提供する。【構成】 撮像された2値画像のパターンに対して、ラベリング処理を行なって、パターンの画素数を求めると共に、パターンのX方向の幅およびY方向の幅の少なくとも一方が基準値を越えていれば、粒状物質が接着しているものと判定し、パターンの画素数を、予め定めておいた基準画素数で除算し、パターンの仮の粒子個数を求めた後、仮の粒子個数を、ラベリングされた画素で囲まれた部分の個数と比較し、仮の粒子個数とラベリングされた画素で囲まれた部分の個数とが一致しないときは、パターンの画素数を、予め求めておいた補正基準画素数で除算することによって、粒状物質の粒子個数を判定する。

Claim (excerpt)：

任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判定する均一粒状物質の個数判定法において、判定対象の前記粒状物質の下方から光を投光して、前記粒状物質の透過光を2値画像として撮像し、撮像された前記2値画像のパターンに対してラベリング処理を行なって、前記パターンの画素数を求めると共に、前記パターンのX方向およびY方向の最大位置と最小位置との差から前記パターンのX方向の幅およびY方向の幅を計算する工程と、前記パターンのX方向の幅およびY方向の幅の両者が共に、予め設定しておいた基準値以下ならば、前記粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、前記粒状物質の粒子個数を求め、前記パターンのX方向の幅およびY方向の幅の少なくとも一方が前記基準値を越えていれば、前記粒状物質が接着しているものと判定し、前記パターンの画素数を、予め定めておいた基準画素数で除算し、前記パターンの仮の粒子個数を求める工程と、前記仮の粒子個数を前記ラベリングされた画素で囲まれた部分の個数と比較し、前記仮の粒子個数と前記ラベリングされた画素で囲まれた部分の個数とが一致しないときは、前記粒状物質の一部分が重なりあって接着しているため、前記粒状物質の正確な粒子個数を反映する前記2値画像が得られないと判断し、前記パターンの画素数を、予め求めておいた補正基準画素数で除算することによって、前記粒状物質の粒子個数を判定する工程とを含むことを特徴とする均一粒状物質の個数判定法。

IPC (5)：

G01N 15/10 ,  G01N 15/02 ,  G01N 15/14 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00

FI (5)：

G01N 15/10 B ,  G01N 15/02 B ,  G01N 15/14 J ,  G06F 15/62 380 ,  G06F 15/70 330 H