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J-GLOBAL ID：200903062046882785

差周波光発生装置およびこれを用いた赤外吸収分析装置

Inventor： 七条 司朗 ,  室 清文
Applicant, Patent owner： 三井化学株式会社
Agent (1)： 西教 圭一郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996144678
Publication number (International publication number)：1997326521
Application date： Jun. 06, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 取り扱いが容易で、たとえば波長3μm以上の長波長領域においても高い連続波出力が得られ、かつ波長掃引が可能な差周波光発生装置および赤外吸収分析装置を提供する。【解決手段】 ブロック100は、レーザ媒質23、出力ミラー22およびKNbO3 から成る非線形光学素子24で構成された内部共振型固体レーザと、レーザ媒質23を励起するためのポンプ用半導体レーザ20とを含む。光共振器は、レーザ媒質23の表面23aと出力ミラー22と間で構成される。レーザ媒質23と非線形光学素子24との間には、発振光に対して反射し、ミキシング光に対して透過する波長選択ミラー30が介在する。ブロック200は、ミキシング光を放射する半導体レーザ10と、レンズ11とを含む。ブロック300は、互いに光学長の異なる2つの複屈折素子5、6と、両者の間に介在する偏光子12とを含んだ、いわゆるリオット型フィルタを構成する。

Claim (excerpt)：

励起光によって励起され、第1基本波を発振するレーザ媒質と、第1基本波および該第1基本波と異なる波長を持つ第2基本波に基づいて、差周波光を発生するための非線形光学素子と、レーザ媒質および非線形光学素子を内部に配置した光共振器と、光共振器の外部に設けられ、第2基本波を発生するレーザ光源と、レーザ光源からの第2基本波の波長を制御するための波長制御手段とを備え、前記波長制御手段が第2基本波を掃引することによって、非線形光学素子が発生する差周波の波長を掃引することを特徴とする差周波光発生装置。

IPC (6)：

H01S 3/108 ,  G01N 21/01 ZAB ,  G01N 21/35 ,  G02F 1/37 ,  H01S 3/10 ,  H01S 3/103

FI (6)：

H01S 3/108 ,  G01N 21/01 ZAB D ,  G01N 21/35 Z ,  G02F 1/37 ,  H01S 3/10 C ,  H01S 3/103