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J-GLOBAL ID:200903062143864430
光学的測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
津川 友士
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993004035
Publication number (International publication number):1994213892
Application date: Jan. 13, 1993
Publication date: Aug. 05, 1994
Summary:
【要約】【目的】 光導波路表面における抗体の固定化密度を高める。【構成】 励起光が導入されるスラブ型光導波路2をポリスチレン、ポリカーボネート、化1またはポリシロキサンで構成し、スラブ型光導波路2の表面に抗体を固定化した。【化1】
Claim (excerpt):
励起光を光導波路(2)に導入して全反射させながら伝播させ、励起光に起因するエバネッセント波成分により光導波路(2)の表面近傍の光学的状態に対応する信号光を得、光導波路(2)を全反射させた後に出射させて光検出手段(3)に導く光学的測定装置において、光導波路(2)として抗原または抗体(4)の固定化率が高いものを採用し、光導波路(2)の表面に抗原または抗体(4)を固定化してなることを特徴とする光学的測定装置。
IPC (3):
G01N 33/543
, G01N 21/64
, G01N 21/77
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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