Pat
J-GLOBAL ID：200903062191419538

放射線撮像装置およびこれに用いるオフセット補正方法

Inventor：
佐藤 賢治

About 佐藤 賢治


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005134315
Publication number (International publication number)：2006305228
Application date： May. 02, 2005
Publication date： Nov. 09, 2006
Summary：
【課題】放射線非照射において長期残留出力成分の影響により形成される残像を除去することができる放射線撮像装置およびオフセット補正方法を提供する。【解決手段】信号監視手段15は、X線照射制御部7と連携してX線照射を停止された後、画像出力信号の検出素子間の統計量を監視し始める。そして、統計量が基準値以下となった時に、補正データ更新部23はオフセット補正データを更新する。また、その後は、更新後時間監視部16の監視結果に基づき、所定の期間が経過するごとに、補正データ更新部23はオフセット補正データを更新する。これにより、長期残留出力成分の影響により形成される残像を除去することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
放射線を検出する複数個の検出素子と、オフセット補正データを用いて、前記検出素子の出力データのオフセット補正を行う補正手段と、放射線非照射時の前記検出素子の出力データに基づいて前記オフセット補正データを更新する更新手段と、を備え、前記補正手段を経た後の画像出力信号を出力する放射線撮像装置において、少なくとも放射線照射停止後から再び放射線照射に移行するまでの期間において、画像出力信号の検出素子間の統計量を監視する信号監視手段を備え、前記信号監視手段によって、前記統計量、または前記統計量の時間的変化が基準値以下になったと判断された時に、前記更新手段は、オフセット補正データを更新することを特徴とする放射線撮像装置。
IPC (8)：
A61B 6/00 ,  G01T 1/00 ,  G01T 1/17 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/24 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335 ,  H01L 31/09
FI (8)：
A61B6/00 300S ,  G01T1/00 B ,  G01T1/17 E ,  G01T1/20 E ,  G01T1/24 ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 R ,  H01L31/00 A
F-Term (34)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK11 ,  2G088KK24 ,  2G088KK29 ,  2G088KK32 ,  2G088LL17 ,  2G088LL18 ,  2G088LL26 ,  2G088LL27 ,  4C093AA01 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC19 ,  4C093FD03 ,  5C024AX11 ,  5C024CX11 ,  5C024CX17 ,  5C024GX02 ,  5C024GY31 ,  5C024HX21 ,  5C024HX23 ,  5C024HX35 ,  5F088AA11 ,  5F088AB05 ,  5F088BB07 ,  5F088KA08 ,  5F088KA10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM