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J-GLOBAL ID：200903062241576052

X線透視装置

Inventor： 本田 道隆
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 波多野 久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993235128
Publication number (International publication number)：1995095478
Application date： Sep. 21, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】ガイドワイヤ及びカテーテル等を移動させて診断を行なっている際、階調変換処理を施した場合でも、ガイドワイヤ及びカテーテル等に対する視認性が良いX線透視装置を提供する。【構成】A/D変換器4から出力したフレーム画像データに基づいて、X線透視像内の動いた部分を画像領域として検出する動き領域検出部5と、動き領域検出部5によって検出された画像領域より大きい周辺の画像領域を設定する周辺領域設定部13と、周辺領域設定部13により設定された画像領域内の各画素の濃度値のみを対象として統計演算を行なう統計演算部17と、その統計演算部17の演算結果に基づいて階調変換特性を決定する変換特性決定回路20と、A/D変換器4から出力されたフレーム画像データに決定された階調変換特性に基づいて階調変換処理を施すLUT21とを備えている。

Claim (excerpt)：

被検体を透過したX線に対応する可視光信号をフレーム画像データに変換する変換手段と、上記フレーム画像データに階調変換処理を施し、そのフレーム画像データをX線透視像としてTVモニタに表示するようにしたX線透視装置において、上記変換手段により変換されたフレーム画像データに基づいて上記X線透視像内の動いた部分を画像領域として検出する画像領域検出手段と、この画像領域検出手段によって検出された画像領域に基づいてその画像領域周辺の画像領域を設定する画像領域設定手段と、この画像領域設定手段により設定された画像領域内の各画素の濃度値のみを対象として統計演算を行なう統計演算手段と、この統計演算手段の演算結果に基づいて階調変換特性を決定する変換特性決定手段と、前記変換手段により変換されたフレーム画像データに上記階調変換特性に基づいて階調変換処理を施す階調変換処理手段とを備えたことを特徴とするX線透視装置。