Pat
J-GLOBAL ID：200903062334806511

画像自動分類方法

Inventor：
平井 大輔

About 平井 大輔


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004122121
Publication number (International publication number)：2005309535
Application date： Apr. 16, 2004
Publication date： Nov. 04, 2005
Summary：
【課題】 分類基準学習型の画像自動分類方法において、分類基準の作成作業が容易な画像自動分類方法を提供する。【解決手段】 学習データにおける各分類カテゴリの特徴量分布から、使用すべき特徴量を限定的に選択する。次に、使用する特徴量に最適な大分類カテゴリを自動で限定的に選択する。更に、選択した大分類カテゴリに最適な詳細分類カテゴリを自動で限定的に選択する。また、学習データと分類結果とを比較して、カテゴリ分布に乖離がある場合、学習データを更新する。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
被検査対象物を撮像して得た画像を多数収集して分類基準学習データを作成し、該画像の特徴点に基づき、大分類のカテゴリから該大分類のカテゴリ内に登録した詳細分類カテゴリに階層的に分類する画像分類方法において、分類基準となる各カテゴリの特徴量の分布から、使用すべき特徴量の組合せを自動で選択することを特徴とする画像分類方法。
IPC (2)：
G06F17/30 ,  G06T7/00
FI (3)：
G06F17/30 210D ,  G06F17/30 170B ,  G06T7/00 300F
F-Term (12)：
5B075ND08 ,  5B075NK06 ,  5B075NK46 ,  5B075NR12 ,  5B075PR04 ,  5L096FA00 ,  5L096FA35 ,  5L096HA07 ,  5L096JA11 ,  5L096JA13 ,  5L096KA04 ,  5L096KA13
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM