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J-GLOBAL ID:200903062336912513
瓶口の開口天面欠陥検査方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐伯 健兒
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995108279
Publication number (International publication number):1996278113
Application date: Apr. 06, 1995
Publication date: Oct. 22, 1996
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 従来困難であった天咬出し、天流れ、あわ・傷又は筋付き等の欠陥を自動的、連続的に低コストで安定的に行うことが可能な瓶口の開口天面欠陥の検査方法を得る。【構成】 検査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶と、被検査瓶の開口天面1上より見て前記被検査瓶を中心として周囲に設けたCCDイメージセンサー5と、CCDイメージセンサー側とCCDイメージセンサーの対向位置及び対向位置の左右両方もしくはいずれか一方に投光器をそれぞれ配設し、CCDイメージセンサー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける投光角度をもたせて、投光器からの投光により欠陥を検知する。
Claim (excerpt):
瓶口の開口天面欠陥検査方法において、検査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶と、前記被検査瓶の開口天面上より見て前記被検査瓶を中心として周囲に設けたCCDイメージセンサーと、前記CCDイメージセンサー側と前記CCDイメージセンサーの対向位置及び前記対向位置の左右いずれか一方に投光器をそれぞれ配設し、前記CCDイメージセンサー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける投光角度をもたせて、前記投光器からの投光により、1)良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を前記CCDイメージセンサーによる受光により一重の弧状の像を画かしめ、2)天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前記瓶内側エッジからの反射光を前記CCDイメージセンサーによる受光により良品の場合よりも太い一重の弧状又は多重の弧状の像を画かしめ、前記CCDイメージセンサーによる受光波形のうち前記良品瓶に対する一重の弧状の像から算出された規定範囲を越えた幅員を有する一重の弧状又は多重の弧状を画いた前記被検査瓶を天面欠陥瓶となすことを特徴とする瓶口の開口天面欠陥検査方法。
IPC (2):
FI (2):
G01B 11/24 C
, G01N 21/90 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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瓶口の開口天面欠陥検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-104831
Applicant:日向邦男
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