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J-GLOBAL ID:200903062389191753
光パルス入力型高速ジョセフソンサンプリング測定回路
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
工業技術院電子技術総合研究所長
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999222992
Publication number (International publication number):2000155052
Application date: Aug. 05, 1999
Publication date: Jun. 06, 2000
Summary:
【要約】【課題】 光パルス測定に際し、測定パルスの劣化、ジョセフソンサンプリング測定回路の超伝導部分への熱の侵入を防止する。【解決手段】 測定点から光ケーブルにより光パルスを光入力型高速ジョセフソン高速サンプリング測定回路の超伝導部分に導入し、超伝導チップ上に作製された光伝導素子に光パルスを照射し、電気パルス信号に変換し、同一チップ上のジョセフソン素子により光パルス波形をサンプリング計測する。
Claim (excerpt):
入力された光パルス信号から変換された電気パルス信号と、極短電気パルス信号、更に、順次変化するバイアス電流をジョセフソンサンプリングゲートに印加し、該ジョセフソンサンプリングゲートが電圧遷移する確率が一定となるように 前記バイアス電流を制御した時のバイアス電流の変化分により入力された光パルス信号を測定する光パルス入力型ジョセフソン・高速サンプリング測定回路において、光パルスを極低温系の超伝導回路部に入力する光ケーブル及び前記超伝導回路部に光ケーブルで入力された光パルスを前記電気パルス信号に変換する半導体薄膜と超伝導配線からなる光伝導素子を設けたことを特徴とする光パルス入力型高速ジョセフソンサンプリング測定回路。
IPC (3):
G01J 11/00
, H01L 31/10
, H01L 39/22 ZAA
FI (3):
G01J 11/00
, H01L 39/22 ZAA K
, H01L 31/10 G
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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