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J-GLOBAL ID:200903062515267914

化合物半導体素子の作製方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003422317
Publication number (International publication number):2005183668
Application date: Dec. 19, 2003
Publication date: Jul. 07, 2005
Summary:
【課題】窒化物系化合物半導体を均一に制御性良くドーピングして、その導電性をp型もしくはn型化する、化合物半導体素子の作製方法を提供すること。【解決手段】GaN、AlN、InN、またはこれらの混合物であるAlGaN、InGaNなどの窒化物系化合物半導体に、p型もしくはn型の導電性を持たせる手段としてイオンビームを用いてドーピングし、その後、熱処理を施して不純物を活性化させる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
半導体素子の材料が窒化物系化合物半導体であり、これらにp型もしくはn型の導電性を持たせる手段としてイオンビームを用いてドーピングすることを特徴とする化合物半導体素子の作製方法。
IPC (1):
H01L21/265
FI (1):
H01L21/265 601A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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