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J-GLOBAL ID：200903062528521240

認識対象物体の位置姿勢認識装置および位置姿勢認識方法

Inventor： 田村 尉 ,  風間 久 ,  岡本 恭一
Applicant, Patent owner： 東京電力株式会社 ,  株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996324121
Publication number (International publication number)：1998160464
Application date： Dec. 04, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】円柱などの特定形状の対象物の3次元的な位置と姿勢を、画像から測定できるようにする。【解決手段】特定形状の認識対象物体にスリット光を照射し、スリット照射画像とスリット無し画像からスリットパターンを抽出し、認識対象物体の縦方向の輪郭線位置を求めるスリットパターン抽出手段4と、認識対象物体の3次元モデルを保有し、この3次元モデルの投影像を算出するど共に、当てはまり程度を示す情報に基づいて3次元モデルの3次元的位置姿勢を修正して前記認識対象物体と比較照合するための投影像を得るモデル投影像生成手段7と、認識対象モデルの位置姿勢を修正して、前記認識対象物体の特徴線を当てはめる特徴線当てはめ手段6と、当てはめ程度の最良の3次元モデル投影像の位置・姿勢情報を、前記モデル投影像生成手段より得て出力する結果出力手段8とを具備する。

Claim (excerpt)：

特定形状の認識対象物体にスリット光を照射するスリット光照射手段と、前記特定形状の認識対象物体の画像を入力する画像入力手段と、前記画像入力手段から得た画像から画像処理によりスリット光の投影パターンを抽出するスリットパターン抽出手段と、前記画像入力手段から得た画像と、スリットパターン抽出手段から得た情報から、スリット光の投影パターンに交差する前記認識対象物体の輪郭線を抽出する経線抽出手段と、前記特定形状の認識対象物体の3次元モデルを保有し、この3次元モデルの投影像を算出すると共に、当てはまり程度を示す情報に基づいて3次元モデルの3次元的位置・姿勢を修正することにより前記認識対象物体との比較照合用の投影像を得るモデル投影像生成手段と、前記画像入力手段から得た画像から、前記認識対象物体の画像特徴と、前記モデル投影像生成手段により得られた投影像を照合比較して当てはめの程度を判別し、前記認識対象モデルの位置姿勢を修正して、前記認識対象物体の形状から生ずる特徴線を当てはめる特徴線当てはめ手段と、前記当てはめ程度の最良の3次元モデル投影像の位置・姿勢情報を、前記モデル投影像生成手段より得て出力する結果出力手段と、を具備することを特徴とする認識対象物体の位置姿勢認識装置。

IPC (3)：

G01C 15/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26

FI (3)：

G01C 15/00 A ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/26 H