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J-GLOBAL ID：200903062550576776
液晶セルの特性測定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
高橋 敬四郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992071745
Publication number (International publication number)：1994110027
Application date： Mar. 30, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 ネマチック液晶の特性を評価するのに適した液晶セルの特性測定方法に関し、比較的安価な測定系を用いて、アンカリングエネルギを精度良く測定することのできる液晶セルの特性測定方法を提供することを目的とする。【構成】 ネマチック液晶セルに電圧を印加した時の、光透過率と過渡的誘電率とを測定することによりアンカリングエネルギを求めることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
ネマチック液晶セルに電圧を印加した時の、光透過率と過渡的誘電率とを測定することによりアンカリングエネルギを求めることを特徴とする液晶セルの特性測定方法。
IPC (5)：
G02F 1/13 101
, G01M 11/00
, G01R 31/00
, G02F 1/1337
, G01N 21/59
