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J-GLOBAL ID：200903062565158865

高感度飛行時間型質量分析装置

Inventor： 今坂 藤太郎
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000068449
Publication number (International publication number)：2001256916
Application date： Mar. 13, 2000
Publication date： Sep. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】 試料のイオン化及びイオン加速部を工夫することにより、イオン収束を適切に行うとともに、イオン検出部の真空度を保ち、さらに質量分析の分解能を改善することができる高感度飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】 高感度飛行時間型質量分析装置において、高電圧を印加するとともに試料のイオン化部を覆うリング部を有するリング型リペラー電極41と、このリング型リペラー電極41の下流であって、試料の流れる方向に配置される引き出しスキマー型電極42と、この引き出しスキマー型電極42の下流の近傍に配置される接地スキマー型電極43とを備え、良好なイオン収束を行い、イオン収束点を前記接地スキマー型電極43先端に設定でき、中性分子がイオン飛行及び検出部に進入するのを最小限に抑えられるとともに、イオンの二段階加速が可能である。

Claim (excerpt)：

(a)高電圧を印加するリペラー電極と、(b)該リペラー電極の下流であって、試料の流れる方向に配置される接地スキマー型電極とを備え、(c)イオンを飛行及び検出する高真空域に中性の原子・分子が進入するのを抑制するとともに、良好な超音速分子流を形成することを特徴とする高感度飛行時間型質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06

FI (4)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/06

F-Term (3)：

5C038FF01 ,  5C038FF07 ,  5C038FF13