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J-GLOBAL ID:200903062599908707
エレベーターの制御装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
高橋 省吾
, 稲葉 忠彦
, 村上 加奈子
, 中鶴 一隆
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006054906
Publication number (International publication number):2007230728
Application date: Mar. 01, 2006
Publication date: Sep. 13, 2007
Summary:
【課題】 バラツキによる影響を受けにくい半導体モジュールの寿命予測をすること。【解決手段】 エレベーターのかご15をモータ11により駆動すると共に、直流を交流に変換するインバータ9と、該インバータ9を構成すると共に、半導体素子60と絶縁基板65を介して設けられたベース61を有する半導体モジュール50と、半導体素子60の第1温度値を検出する第1温度センサ72と、ベース61の第2温度値を検出する第2温度センサ74と、第1温度値と第2温度値との温度差に基づいて半導体モジュール50の劣化を判定する判定器90とを備えたものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
エレベーターのかごをモータにより駆動すると共に、直流を交流に変換するインバータと、
該インバータを構成すると共に、半導体素子と絶縁基板を介して設けられたベースを有する半導体モジュールと、
前記半導体素子の第1温度値を検出する第1温度検出手段と、
前記ベースの第2温度値を検出する第2温度検出手段と、
前記第1温度値と前記第2温度値との温度差に基づいて前記半導体モジュールの劣化を判定する第1判定手段と、
を備えたことを特徴とするエレベーターの制御装置。
IPC (3):
B66B 3/00
, B66B 1/34
, B66B 5/00
FI (3):
B66B3/00 R
, B66B1/34 A
, B66B5/00 G
F-Term (10):
3F002CA07
, 3F002EA08
, 3F002GA03
, 3F002GB02
, 3F303BA01
, 3F303CB41
, 3F303DC35
, 3F303EA08
, 3F304BA26
, 3F304ED16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
エレベータの制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-106824
Applicant:株式会社日立製作所
Cited by examiner (5)
-
電力変換装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-163141
Applicant:東芝エレベータ株式会社
-
インバータ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-173348
Applicant:株式会社日立製作所
-
インバータ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-189651
Applicant:日産自動車株式会社
-
エレベータの制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-105966
Applicant:東芝エレベータ株式会社
-
エレベータ制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-063236
Applicant:株式会社東芝
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