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J-GLOBAL ID:200903062599908707

エレベーターの制御装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 高橋 省吾 ,  稲葉 忠彦 ,  村上 加奈子 ,  中鶴 一隆
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006054906
Publication number (International publication number):2007230728
Application date: Mar. 01, 2006
Publication date: Sep. 13, 2007
Summary:
【課題】 バラツキによる影響を受けにくい半導体モジュールの寿命予測をすること。【解決手段】 エレベーターのかご15をモータ11により駆動すると共に、直流を交流に変換するインバータ9と、該インバータ9を構成すると共に、半導体素子60と絶縁基板65を介して設けられたベース61を有する半導体モジュール50と、半導体素子60の第1温度値を検出する第1温度センサ72と、ベース61の第2温度値を検出する第2温度センサ74と、第1温度値と第2温度値との温度差に基づいて半導体モジュール50の劣化を判定する判定器90とを備えたものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
エレベーターのかごをモータにより駆動すると共に、直流を交流に変換するインバータと、 該インバータを構成すると共に、半導体素子と絶縁基板を介して設けられたベースを有する半導体モジュールと、 前記半導体素子の第1温度値を検出する第1温度検出手段と、 前記ベースの第2温度値を検出する第2温度検出手段と、 前記第1温度値と前記第2温度値との温度差に基づいて前記半導体モジュールの劣化を判定する第1判定手段と、 を備えたことを特徴とするエレベーターの制御装置。
IPC (3):
B66B 3/00 ,  B66B 1/34 ,  B66B 5/00
FI (3):
B66B3/00 R ,  B66B1/34 A ,  B66B5/00 G
F-Term (10):
3F002CA07 ,  3F002EA08 ,  3F002GA03 ,  3F002GB02 ,  3F303BA01 ,  3F303CB41 ,  3F303DC35 ,  3F303EA08 ,  3F304BA26 ,  3F304ED16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • エレベータの制御装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-106824   Applicant:株式会社日立製作所
Cited by examiner (5)
  • 電力変換装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-163141   Applicant:東芝エレベータ株式会社
  • インバータ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2004-173348   Applicant:株式会社日立製作所
  • インバータ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-189651   Applicant:日産自動車株式会社
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