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J-GLOBAL ID：200903062627142995

測距装置

Inventor： 井上 晃
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991218828
Publication number (International publication number)：1993052558
Application date： Aug. 29, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】スポット欠けの影響を除去した広視野の測距を可能とすること。【構成】AFIC(オートフォーカス集積回路)6にて、IRED(近赤外発光ダイオード)3のスポット発光部3Aを発光した時及び該スポット発光部とエリア発光部3Bとを発光した時の一対のPSD(位置検出素子)4L,4Rの各電極から得られる信号電流の比に依存する比演算の積分出力1/DS ,1/DM と和に依存する光量積分出力iSS/AS ,iSM/AM を得、演算装置8により、両比演算の積分出力を比較し、その比較結果に基づいて、上記スポット発光部を発光した時の比演算の積分出力による被写体距離算出と、上記スポット及びエリア両発光部を発光した時の比演算の積分出力による被写体距離算出と、上記4つの出力による被写体距離算出とを選択的に行なって、被写体距離を求める。

Claim (excerpt)：

比較的狭い範囲の領域を投射する第1発光状態と、これより広い範囲を投射する第2発光状態とを選択的に切り替え可能な投光手段と、この投光手段を挟んで配設された一対の光位置検出手段と、上記第1発光状態時に上記一対の光位置検出手段の各電極から得られる信号電流の比に依存する第1の出力値及び和に依存する第2の出力値と、上記第2発光状態時に上記各電極から得られる信号電流の比に依存する第3の出力値及び和に依存する第4の出力値を算出する算出手段と、上記第1の出力値と第3の出力値とを比較する比較手段と、上記比較手段出力に基づき、上記第1の出力値による被写体距離算出と、上記第3の出力値による被写体距離算出と、上記第1の出力値,第2の出力値,第3の出力値,及び第4の出力値による被写体距離算出とを選択的に行なわせる演算手段と、を具備したことを特徴とする測距装置。

IPC (4)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36 ,  G03B 13/20

FI (2)：

G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A