Pat
J-GLOBAL ID:200903062658760271
光波距離計
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
北村 欣一 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993045370
Publication number (International publication number):1994258436
Application date: Mar. 05, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 光学的絞りを設けることなく高精度の距離測定を行える光波距離計を提供する。【構成】 変調器2で変調され発光器3から射出された基準信号と同位相の射出輝度変調光4は、送光光学系5を介し測定対象物7で反射され、受光光学系9を介して反射輝度変調光10として受光手段11で受光される。例えばアバランシェホトダイオードで構成される受光手段11は、その出力する検出信号レベルが外部から制御可能であるので、制御手段15により出力信号レベルが所定範囲内に納まる様に制御される。位相差検出器14は反射輝度変調光10の位相と基準信号の位相の位相差を検出し距離算出器16が距離を求める。その際、検出信号レベルは受光器11の受光光量に影響されないため、光学絞りを設けなくても検出信号レベルは基準信号レベルと一致し、精度良く測定できる。
Claim (excerpt):
基準信号と同位相の射出輝度変調光が測定対象物に照射され反射された反射輝度変調光を受光して該反射輝度変調光と同位相の検出信号を出力する受光手段と、前記検出信号の位相と基準信号の位相の位相差から測定対象物との距離を測定する光波距離計において、前記受光手段はその出力する検出信号のレベルを外部信号で制御できるものであって、前記検出信号のレベルに基づいて受光手段を制御することで検出信号のレベルを一定値に保つ制御手段を設けたことを特徴とする光波距離計。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
特開平3-046588
-
特開平1-257289
-
レーザレーダ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-024860
Applicant:株式会社光電製作所
Return to Previous Page