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J-GLOBAL ID：200903062688968330

パノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置及びその作動方法

Inventor： ウルリッヒ シュルツェ-ガンツリン ,  ヨーゼフ プレッツ
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997125617
Publication number (International publication number)：1998052426
Application date： Jul. 28, 1995
Publication date： Feb. 24, 1998
Summary：

【要約】【課題】 計算すべきパノラマ像のための所望のスライス位置を求めるのに要する時間を低減した放射線診断装置及びその作動方法を提供する。【解決手段】 計算機が所望のスライス位置を、複数の単一スライスの位置を計算して評価処理することによって求める。

Claim (excerpt)：

放射線を用いて被検対象(1)をトモグラフ走査するため、及び被検対象(1)の放射線陰影に依存して電気信号を形成するためのユニット(2、3、4)と、トモグラフ走査中に前記電気信号を記憶するメモリ(5)を有し、所望のスライス位置(10)での被検対象(1)のスライス画像に相応する信号を計算する計算機(6)を有する信号処理装置とを有するパノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置において、計算機(6)が所望のスライス位置(10)を、複数の単一スライスの位置(12、15)を計算して評価処理することにより求めることを特徴とするパノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-144549
  
• 特開平1-166743
  
• 特開平4-144549
  
• 特開平1-166743