Pat
J-GLOBAL ID:200903062724532285
走査型光学顕微鏡
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 高柴 忠夫
, 上田 邦生
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002268694
Publication number (International publication number):2004109219
Application date: Sep. 13, 2002
Publication date: Apr. 08, 2004
Summary:
【課題】光軸外における性能劣化を防止する。【解決手段】光源11と、該光源11から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子22と、該波面変換素子22から発せられた波面変換後の光束を直交する2方向に走査する光走査手段3と、光走査手段3によって偏向した光束を試料に集光する対物レンズ4と、該試料から発せられた信号光を検出する検出器53とを備え、前記波面変換素子22を前記光走査手段3と同期して動作させる走査型光学顕微鏡を提供する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
光源と、該光源から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、該波面変換素子から発せられた波面変換後の光束を走査する光走査手段と、光走査手段によって偏向した光束を試料に集光する対物レンズと、該試料から発せられた信号光を検出する検出器とを備え、前記波面変換素子を前記光走査手段と同期して動作させることを特徴とする走査型光学顕微鏡。
IPC (5):
G02B21/00
, G02B5/10
, G02B13/18
, G02B17/08
, G02B21/02
FI (5):
G02B21/00
, G02B5/10 B
, G02B13/18
, G02B17/08 A
, G02B21/02
F-Term (31):
2H042DD10
, 2H042DD11
, 2H042DE00
, 2H052AA07
, 2H052AB06
, 2H052AB24
, 2H052AC04
, 2H052AC15
, 2H052AC18
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 2H052AF06
, 2H087KA09
, 2H087LA01
, 2H087LA24
, 2H087LA27
, 2H087PA07
, 2H087PA16
, 2H087PB16
, 2H087QA02
, 2H087QA14
, 2H087QA22
, 2H087QA26
, 2H087QA33
, 2H087QA42
, 2H087QA45
, 2H087RA06
, 2H087TA01
, 2H087TA03
, 2H087TA05
, 2H087TA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
試料照射装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-070538
Applicant:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-386020
Applicant:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型光学顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-394934
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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