Pat

J-GLOBAL ID：200903062746954752

円運動精度測定データの解析方法および解析処理装置

Inventor： 長島 一男
Applicant, Patent owner： 東芝機械株式会社
Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995093640
Publication number (International publication number)：1996285574
Application date： Apr. 19, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：

【要約】【目的】 R-θ法の測定データを自動分析して工作機械の運動誤差の要因を定量的数値として的確に捉えること。【構成】 同定すべき誤差要因の各々に対して個別の正弦関数と余弦関数による二つの独立変数を与え、所定の回転角度毎に測定した前記円運動の回転半径の測定データを従属変数とし、前記独立変数および前記従属変数の総和と自己および相互の積和を計算し、前記独立変数および前記従属変数の総和および積和から、これらの平均値と連立方程式の係数を算出し、この連立方程式を解いて各独立変数の回帰係数を算出すると共に当該回帰係数と前記平均値から回帰の定数を算出し、前記回帰係数と前記回帰の定数と前記独立変数を重回帰式に代入して回帰の値を計算し、重回帰分析法により前記測定データに含まれる誤差要因を定量的に解析する。

Claim (excerpt)：

X軸とY軸による直角平面座標系におけるX軸方向の移動とY軸方向の移動による円弧補間による円運動の円運動精度の誤差要因を同定する解析方法において、同定すべき誤差要因の各々に対して個別の正弦関数と余弦関数による二つの独立変数を与え、所定の回転角度毎に測定した前記円運動の回転半径の測定データを従属変数とし、前記独立変数および前記従属変数の総和と自己および相互の積和を計算し、前記独立変数および前記従属変数の総和および積和から、これらの平均値と連立方程式の係数を算出し、この連立方程式を解いて各独立変数の回帰係数を算出すると共に当該回帰係数と前記平均値から回帰の定数を算出し、前記回帰係数と前記回帰の定数と前記独立変数を重回帰式に代入して回帰の値を計算し、重回帰分析法により前記測定データに含まれる誤差要因を定量的に解析することを特徴とする円運動精度測定データの解析方法。