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J-GLOBAL ID：200903062976461097
断層像撮影装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山田 正紀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994057137
Publication number (International publication number)：1995265316
Application date： Mar. 28, 1994
Publication date： Oct. 17, 1995
Summary：
【要約】【目的】本発明は、被検体に光ビームを入射しその被検体内で散乱・反射した光を受光して被検体断層像を担持する受光信号を得る断層像撮影装置に関し、深さ方向,横方向双方について良好な分解能を維持しつつ、断層像を高速に得る。【構成】受光部に複数の受光素子を備えておき、それら複数の受光素子により得られた複数の受光信号を、被検体内の光路内の所定点の情報が強調された受信信号が得られるように相対的に遅延させて互いに加算する電子焦点制御部10を備えた。
Claim (excerpt)：
所定の可干渉距離を有する光波を放射する光源を有し、該光源から放射された光波を第1の光波と第2の光波とに二分して射出する光源部と、複数の受光素子を有する受光部と、前記光源部から射出された第1の光波を、被検体に照射する物体光として該被検体に導くともに該物体光が該被検体で反射されることにより得られた反射光を前記受光部に導く対物部と、前記光源部から射出された第2の光波を入射し、該第2の光波を、該第2の光波が前記受光部に導かれる迄の間の光路長を連続的に変更することにより該第2の光波と比べ周波数が遷移した参照光に変換して、該参照光を、該参照光の少なくとも一部が前記受光部で前記反射光と重畳されるように前記受光部に導く参照光発生部と、前記受光部に導びかれた、前記反射光と前記参照光とが重畳された干渉波を前記複数の受光素子それぞれで受光することにより得られた複数の受光信号を、前記被検体内の、前記物体光の光路内の所定点の情報が強調された受光信号が得られるように相対的に遅延させて互いに加算する電子焦点制御部とを備えたことを特徴とする断層像撮影装置。
IPC (4)：
A61B 10/00
, G01B 9/02
, G01B 11/00
, G01N 21/27
