Pat
J-GLOBAL ID：200903063080810617
多光子励起スペクトル及び多光子吸収スペクトル計測装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 渡辺 敏章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006190486
Publication number (International publication number)：2008020247
Application date： Jul. 11, 2006
Publication date： Jan. 31, 2008
Summary：
【課題】光源の位相制御効果を含めて多光子励起スペクトルあるいは多光子吸収スペクトルを計測する。【解決手段】広帯域レーザー光源11から発生された個々の波長成分に位相変調器12によって位相シフトを与え、マイケルソン干渉計14とピエゾステージ15を組み合わせた干渉自己相関計13を通した光を試料18に照射する。光検出器20からの計測信号と光検出器22からの参照信号のそれぞれをフーリエ変換した後、両者の比をとることにより、試料18の二光子励起スペクトルあるいは二光子吸収スペクトルが求められる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
広帯域レーザー光源と、
前記広帯域レーザー光源から発生された光線の個々の波長成分に位相シフトを与える位相変調器と、
前記位相変調器を通った光線を第1の光路と第2の光路に分割し、前記第1の光路の光線と第2の光路の光線を干渉させる干渉計と
前記干渉計の一方の光路の光路長を掃引する手段と、
前記干渉計からの出射光を2分割する手段と、
前記2分割された一方の出射光を受光する第1の光検出器と、
前記2分割された他方の出射光の光路中に配置される試料を保持する試料保持部と、
前記試料保持部に保持された試料から発生される蛍光を透過するフィルターと、
前記フィルターを透過した蛍光を受光する第2の光検出器と、
前記第1の光検出器の出力及び第2の光検出器の出力をそれぞれフーリエ変換し、波長毎に両者の比をとることにより試料の励起スペクトルを求める演算部と
を有することを特徴とする多光子励起スペクトル計測装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (18)：
2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA03
, 2G043HA09
, 2G043HA11
, 2G043HA15
, 2G043JA02
, 2G043JA04
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA08
, 2G043KA09
Cited by applicant (3)
-
超短レーザパルスを使用したレーザシステム
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2004-543121
Applicant：ボードオブトラスティーズ,オパレイティングミシガンステイトユニバーシティ
-
フーリエ分光器
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-336630
Applicant：横河電機株式会社
-
マイケルソン干渉計
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-156701
Applicant：株式会社アドバンテスト
Cited by examiner (3)
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超短レーザパルスを使用したレーザシステム
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2004-543121
Applicant：ボードオブトラスティーズ,オパレイティングミシガンステイトユニバーシティ
-
フーリエ分光器
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-336630
Applicant：横河電機株式会社
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マイケルソン干渉計
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-156701
Applicant：株式会社アドバンテスト
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (3)
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