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J-GLOBAL ID：200903063121329104
機器異常監視方法およびその装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
笹岡 茂 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992188626
Publication number (International publication number)：1994003483
Application date： Jun. 23, 1992
Publication date： Jan. 11, 1994
Summary：
【要約】【目的】 機器運転状態を高精度に検出し、かつ、記憶容量を少容量化すると共に機器異常の監視性能を向上し、予測していない異常を判定することにある。【構成】 機器から複数の監視パラメータを計測して抽出し、あらかじめ定めた監視パラメータを選択すると共に学習モードまたは監視モードを設定し、学習モードのとき、あらかじめ定めた監視パラメータの値に応じてその他の監視パラメータの正常時の値を学習し、監視モードのとき、あらかじめ定めた監視パラメータの値に応じて学習済みのその他の監視パラメータの代表値を出力し、学習済みの正常なその他の監視パラメータの代表値と現時刻のその他の監視パラメータの値を比較して、現時刻のその他の監視パラメータの値が正常範囲外のとき異常と判定し、判定結果を警報・表示する。
Claim (excerpt)：
学習モードにおいて、あらかじめ定めた監視パラメータの値に応じてその他の監視パラメータの代表値を記憶した記憶装置の記憶領域を選択し、選択した記憶領域の内容を学習時のその他の監視パラメータの値に応じて更新し、監視モードにおいては、上記のあらかじめ定めた監視パラメータの値に応じて記憶装置の記憶領域を選択し、その記憶領域の内容と機器運転時のその他の監視パラメータパターンを比較し、機器の異常を検出することを特徴とする機器異常監視方法。
IPC (3)：
G21C 17/00
, G01D 21/00
, G05B 23/02
