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J-GLOBAL ID：200903063186973566

画像処理装置、印刷制御装置、画像処理方法、および記録媒体

Inventor：
角谷 繁明

About 角谷 繁明


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (1)： 特許業務法人 明成国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001279915
Publication number (International publication number)：2002185790
Application date： Sep. 14, 2001
Publication date： Jun. 28, 2002
Summary：
【要約】【課題】 画像データを、各種ドットの形成有無による表現形式に迅速に変換する。【解決手段】 画像データを、各種ドットのドット形成密度を示すドット密度データに変換するに際し、小ドットのドット密度データとして、小ドットと大ドットを合わせたドット形成密度を示すデータに変換する。中ドットのドット密度データとして、中ドットと大ドットとを合わせたドット密度データに変換する。これらドット密度データに基づいて、小ドットのドット形成有無と中ドットのドット形成有無とをそれぞれ判断し、同一画素に小ドットと中ドットとが重ねて形成されている場合には、これらドットを大ドットに変換する。こうすれば、小ドットおよび中ドットについて判断するだけで大ドットのデータを得ることができ、画像データを小・中・大ドットの形成有無による表現形式のデータに迅速に変換することが可能となる。
Claim (excerpt)：
各画素の階調値を示す画像データを、単ドットあたりに表現可能な階調値の異なる各種ドットについてのドット形成密度に関する中間データに変換し、得られた該中間データに基づいて画素毎に該各種ドットの形成有無を判断することにより、該画像データを該各種ドットの形成有無によって表現されたドットデータに変換する画像処理装置であって、前記画像データを、前記各種ドット中の第1のドットについてのドット形成密度と前記各種ドット中の第3のドットについてのドット形成密度との合計値に関する第1の中間データに変換する第1の中間データ変換手段と、前記画像データを、前記各種ドット中の第2のドットについてのドット形成密度と前記第3のドットについてのドット形成密度との合計値に関する第2の中間データに変換する第2の中間データ変換手段と、前記第1の中間データに基づいて、前記第1のドットの形成有無を画素毎に判断する第1のドット形成判断手段と、前記第2の中間データに基づいて、前記第2のドットの形成有無を画素毎に判断する第2のドット形成判断手段と、前記第1のドットと前記第2のドットとが共に形成される画素については、これらドットに代えて前記第3のドットを形成すると判断する第3のドット形成判断手段とを備える画像処理装置。
IPC (5)：
H04N 1/405 ,  B41J 2/525 ,  B41J 5/30 ,  G06T 5/00 200 ,  H04N 1/40
FI (5)：
B41J 5/30 Z ,  G06T 5/00 200 A ,  H04N 1/40 B ,  H04N 1/40 103 B ,  B41J 3/00 B
F-Term (36)：
2C087AA11 ,  2C087AA15 ,  2C087AA16 ,  2C087AB05 ,  2C087BA02 ,  2C087BA03 ,  2C087BA12 ,  2C087BD24 ,  2C262AA02 ,  2C262AA24 ,  2C262AB19 ,  2C262BB03 ,  2C262BB10 ,  2C262BB14 ,  2C262BB22 ,  2C262BC10 ,  2C262EA04 ,  5B057AA11 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB07 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE13 ,  5B057CH07 ,  5C077LL19 ,  5C077MP01 ,  5C077MP08 ,  5C077NN04 ,  5C077PQ23 ,  5C077RR09 ,  5C077TT05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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