Pat

J-GLOBAL ID：200903063280149591

X線回折測定のための試料加熱・冷却装置

Inventor： 阿久津 修
Applicant, Patent owner： 理学電機株式会社
Agent (1)： 山本 寿武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994189637
Publication number (International publication number)：1996054358
Application date： Aug. 11, 1994
Publication date： Feb. 27, 1996
Summary：

【要約】【目的】 X線回折測定に際して、効率よくしかも均一に試料を加熱または冷却できるようにする。【構成】 耐熱性を有しかつ熱伝導率の高い単一部材からなる装置本体1と、この装置本体1の軸方向一端面に設けた試料保持部2と、装置本体1の内部で長尺に延在して形成した冷媒流通路5と、装置本体1の内部で試料保持部2と冷媒流通路5とに挟まれた部位に埋設した加熱手段としてのヒータ線11と、装置本体1の内部で試料保持部2の近傍位置に設けた温度検出手段としての熱電対12とを備えたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

耐熱性を有しかつ熱伝導率の高い単一部材からなる装置本体と、この装置本体の軸方向一端面に設けた試料保持部と、前記装置本体の内部で長尺に延在して形成した冷媒流通路と、前記装置本体の内部で前記試料保持部と前記冷媒流通路とに挟まれた部位に埋設した加熱手段と、前記装置本体の内部で前記試料保持部の近傍位置に設けた温度検出手段とを備えたことを特徴とするX線回折測定のための試料加熱・冷却装置。