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J-GLOBAL ID：200903063281748723

流体中の粒子検査装置

Inventor： 矢辺 良平 ,  大和田 伯男 ,  浅井 英規 ,  堀内 秀之
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993258049
Publication number (International publication number)：1995113738
Application date： Oct. 15, 1993
Publication date： May. 02, 1995
Summary：

【要約】【目的】 種々の成分が高濃度で存在する検体に対しても、自動的に正確で迅速な成分粒子分析が実行可能な流体中の粒子検査装置を実現する。【構成】 サンプルの粒子画像は顕微鏡対物レンズ5で結像位置6に形成され投影レンズ7でカメラ8の撮像面上に投影され光電変換される。カメラ8からの画像信号はA/D変換器24から画像メモリ25に供給され画像処理制御部26に供給される。画像メモリ25からの画像信号は特徴抽出部28に供給され粒子の特徴が抽出される。抽出された特徴は識別部29に供給されニューラルネットワークにより沈渣成分の分類が行われる。ニューラルネットワークは専門家の判断に基づく大量のデータを用いて学習を実行し、各ニューロン間の結合係数は最適化されている。したがって、識別部29は入力されたパラメータを用いて、対象となる沈渣成分の自動分類を実行できる。

Claim (excerpt)：

流体中の粒子を検出し、検出した粒子を撮像可能な流体中の粒子検査装置において、撮像した粒子画像から複数の特徴を抽出する特徴抽出部と、抽出された複数の特徴に基づいて、粒子の種類を識別する種類識別部と、少なくとも、上記種類識別部が粒子の種類を識別できない場合には、識別できなかった粒子の画像を記憶する記憶部と、上記記憶部に記憶された画像を表示する表示部と、を備えることを特徴とする流体中の粒子検査装置。

IPC (4)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/14 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/49

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭60-038653
  
• 特開昭56-098635
  
• 細胞自動分類論理の構築方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-260102   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平3-131756
  
• 特表平4-501325