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J-GLOBAL ID:200903063286264651

磁気抵抗効果素子およびその製造方法並びに磁気メモリ装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 船橋 國則
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001358643
Publication number (International publication number):2003158312
Application date: Nov. 26, 2001
Publication date: May. 30, 2003
Summary:
【要約】【課題】 磁気抵抗効果型の記憶素子において、強磁性体層の構造不均一性を解消することで、構造の不均一に起因する保持力の増大を防ぎ、その記憶素子への書き込み電流を減少させる。【解決手段】 二つの強磁性体層24,26の間に非磁性体層25を挟んだ多層膜構造を有し、一方の強磁性体層24の磁化方向の変化を利用して情報記録を行う磁気抵抗効果素子において、前記強磁性体層24,26のうちの少なくとも一方を、例えばアモルファスに代表されるように、明瞭な結晶粒界のないシングルグレイン構造とする。
Claim (excerpt):
二つの強磁性体層の間に非磁性体層を挟んだ多層膜構造の磁気抵抗効果素子において、前記強磁性体層のうちの少なくとも一方は、明瞭な結晶粒界のないシングルグレイン構造を有したものであることを特徴とする磁気抵抗効果素子。
IPC (4):
H01L 43/08 ,  G01R 33/09 ,  H01L 27/105 ,  H01L 43/12
FI (4):
H01L 43/08 Z ,  H01L 43/12 ,  H01L 27/10 447 ,  G01R 33/06 R
F-Term (4):
2G017AD55 ,  2G017AD63 ,  2G017AD65 ,  5F083FZ10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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