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J-GLOBAL ID：200903063298317416

パルスドプラ計測装置、その方法及びそのプログラム

Inventor： 田中 直彦
Applicant, Patent owner： 学校法人 芝浦工業大学
Agent (2)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006040587
Publication number (International publication number)：2007215816
Application date： Feb. 17, 2006
Publication date： Aug. 30, 2007
Summary：

【課題】対象物の速度を超音波パルスの反射波の位相差により計測する際に、位相差における位相の折り返しによる誤計測を防止することを可能にしたパルスドプラ計測装置を提供する。【解決手段】パルスドプラ計測装置1は、反射波から、周波数毎の位相を検出するフーリエ変換手段31と、周波数毎の位相について位相差を演算する位相差演算手段33と、その位相差に対して、予め定めた異なる複数の位相修正パターンで2πの整数倍の位相を加算又は減算する位相差修正手段341と、周波数と当該周波数における位相差とを座標点とする座標系において、位相修正パターン毎に周波数毎の座標点を直線に近似することで、その直線の傾きとその誤差とを演算する直線近似手段342と、その誤差が最小となる直線の傾きを、移動速度に対応する位相差の傾きとして選択する速度特定手段36と、を備えることを特徴とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

対象物に対して超音波を一定の周期で送波し、その反射波に基づいて、前記対象物の移動速度を計測するパルスドプラ計測装置であって、 前記超音波を前記対象物に送波する送波手段と、 前記対象物からの前記超音波に対する反射波を受波する受波手段と、 この受波手段で受波した反射波から、周波数毎の位相を検出するスペクトル解析手段と、 このスペクトル解析手段で検出された周波数毎の位相について、前記周期毎に位相差を演算する位相差演算手段と、 前記周波数毎の位相差に対して、予め定めた異なる複数の位相修正パターンで2πの整数倍の位相を加算又は減算することで前記位相差を修正する位相差修正手段と、 前記周波数と当該周波数における位相差とを座標点とする座標系において、前記複数の位相修正パターン毎に、前記周波数毎の座標点を直線に近似することで、その直線の傾きと、その誤差とを演算する直線近似手段と、 この直線近似手段で演算された前記誤差が最小となる直線の傾きを、前記移動速度に対応する位相差の傾きとして選択する速度特定手段と、 を備えていることを特徴とするパルスドプラ計測装置。

IPC (2)：

A61B 8/06 ,  G01S 15/50

FI (2)：

A61B8/06 ,  G01S15/50

F-Term (22)：

4C601DE03 ,  4C601EE06 ,  4C601JB45 ,  4C601JB49 ,  4C601JB51 ,  5J083AA02 ,  5J083AB17 ,  5J083AC07 ,  5J083AC15 ,  5J083AC17 ,  5J083AC29 ,  5J083AD08 ,  5J083AD12 ,  5J083AE08 ,  5J083BA01 ,  5J083BE16 ,  5J083BE17 ,  5J083BE43 ,  5J083BE53 ,  5J083CA02 ,  5J083DA01 ,  5J083EA06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特許第2953083号公報(段落0009)
  
• 米国特許第4534357号明細書
  
• 特開平4-197249号公報(第3-5頁、第3-5図)