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J-GLOBAL ID：200903063314098533

品質管理システム

Inventor： 石塚 雄二 ,  藤本 孝治
Applicant, Patent owner： 出光興産株式会社 ,  横河電機株式会社
Agent (1)： 木下 實三 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995180001
Publication number (International publication number)：1997035104
Application date： Jul. 17, 1995
Publication date： Feb. 07, 1997
Summary：

【要約】【目的】 信頼性が高くリアルタイムに製品の性状を確認できる品質管理システムを提供すること。【構成】 品質管理システム10は、複数の基材を混合して得られる製品の性状を測定する分析計11,12と、各基材の性状、混合比率から製品の性状を推定する性状推定手段13と、性状測定値及び性状推定値を照合して製品の品質を管理する照合手段14とで構成される。各分析計11, 12、性状推定手段13はリアルタイムにデータを測定、推定可能なため、ほぼリアルタイムで製品性状が評価される。また、測定値のほかに、各種データによる推定値を用いて評価するため、信頼性の高い評価が行え、確実な品質管理が確立される。

Claim (excerpt)：

複数の基材を混合して得られる製品の品質を管理する品質管理システムであって、前記製品の性状を測定する性状測定手段と、前記各基材の性状および混合比率から製品の性状を推定する性状推定手段と、前記性状測定手段で得られた性状測定値および前記性状推定手段で得られた性状推定値を照合して製品の品質を管理する照合手段と、を備えることを特徴とする品質管理システム。

IPC (2)：

G07C 3/14 ,  G05D 11/03

FI (2)：

G07C 3/14 ,  G05D 11/03 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭60-230214
  
• 特公昭49-005152
  
• 特開昭57-139815
  
• 特開昭60-015703