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J-GLOBAL ID:200903063320992289
非破壊材料試験装置とその方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
江崎 光史 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1996513589
Publication number (International publication number):1998507527
Application date: Oct. 19, 1995
Publication date: Jul. 21, 1998
Summary:
【要約】この発明は、SQUID,SQUIDグラジオメータおよび励磁コイルを備えた非破壊材料試験装置に関する。この発明の課題は、励起磁場を試験構造部品で最大にするが、センサの位置では最小するように励磁コイル配置を構成することにある。これには、少なくとも一つの他の励磁コイルを使用し、この他の励磁コイルが SQUIDグラジオメータのグラジオメータ軸に対して垂直な面内で第一励磁コイルと共に配置され、各励磁コイルのコイル中心が一つの円の上にあり、グラジオメータ軸が円の中心を貫通し、円形に配置された励磁コイルが互いに等間隔である。この装置は低温 SQUIDでも、好ましくは高温 SQUID系でも実現できる。
Claim (excerpt):
SQUID,SQUIDグラジオメータおよび励磁コイルを備えた非破壊材料試験装置において、 少なくとも一つの他の励磁コイルを備え、この他の励磁コイルが SQUIDグラジオメータのグラジオメータ軸に垂直な面内で各励磁コイルのコイル中心を一つの円の上に置き、グラジオメータ軸が円の中心を貫通し、円形に配置された第一励磁コイルと共に配置されていることを特徴とする非破壊材料試験装置。
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