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J-GLOBAL ID：200903063367672630

複屈折測定装置

Inventor： 今川 恭次 ,  富田 蔵 ,  永田 紳一 ,  酒井 清和
Applicant, Patent owner： 神崎製紙株式会社
Agent (1)： 蓮見 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992077718
Publication number (International publication number)：1993281136
Application date： Mar. 31, 1992
Publication date： Oct. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】複屈折測定装置の測定精度を向上させる。【構成】測定ヘッドの移動時、ランプ交換時等に、一つの測定ヘッドを構成する各受光素子間の受光照度ムラ等の影響を補償する補正手段と、測定中に定期的に自動的に同様の補正を行う制御手段を備える。

Claim (excerpt)：

測定用ヘッドの移動作業後にまたは光源ランプ交換時等において測定ヘッドを構成する複数の受光素子の受光照度ムラ等の補正を行うための補正手段を設けたことを特徴とする複屈折測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/23 ,  G01N 21/01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平4-089553
  
• 特開平2-157978
  
• 特開平1-307645
  
• 特開平3-110452
  
• 特開昭63-218842