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J-GLOBAL ID：200903063369709850

物体の画像解析装置

Inventor： 直井 聡 ,  江川 宏一
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 宮内 佐一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993000991
Publication number (International publication number)：1994137974
Application date： Jan. 07, 1993
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 物体の画像解析装置に関し、物体が見えにくい箇所でもその物体の動きを安定かつ精度良く捉えることができ、コストも低減することを目的とする。【構成】 物体の圧力分布を荷重画像として出力する圧力センサ22と、荷重画像を各画素の濃度値に応じて分類し分類した各々のグループで投影値を算出し算出した投影値に重みをつけて荷重中心を重心として算出する位置計測手段23Aと、算出した重心を中心とするモーメントの主軸を算出し物体の向きおよび方向の変化を求める向き演算手段24Aを備えるようにした。

Claim (excerpt)：

物体の圧力分布を荷重画像として出力する圧力センサ(22)と、荷重画像を各画素の濃度値に応じて分類し、分類した各々のグループで投影値を算出し、算出した投影値に重みをつけて荷重中心を重心として算出する位置計測手段(23A)と、算出した重心を中心とするモーメントの主軸を算出し物体の向きおよび方向の変化を求める向き演算手段(24A)を備えたことを特徴とする物体の画像解析装置。

IPC (5)：

G01L 5/00 101 ,  G01L 1/00 ,  G01L 5/16 ,  G06F 15/62 420 ,  G06F 15/70 450