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J-GLOBAL ID：200903063370623438

位相差板式偏光方法及びリターディション測定方法

Inventor： 新谷 ▲隆▼一
Applicant, Patent owner： 新谷 ▲隆▼一
Agent (1)： 北村 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994132692
Publication number (International publication number)：1996005546
Application date： Jun. 15, 1994
Publication date： Jan. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 低コストで実施できる位相差板式偏光方法及びリターディション測定方法を提供する。【構成】 任意の楕円率を有する楕円偏光を位相差板Fに入射させて、その入射楕円偏光の楕円率に応じた方位を有する直線偏光に変換する位相差板式偏光方法において、位相差板Fを複数の位相差板4,5により構成し、前記複数の位相差板4,5夫々の中性軸の方向を、入射光の波長に応じた設定角度に調整する。又、直線偏光又は円偏光を測定対象となる試料Sに入射させ、その試料Sを通過して生じた楕円偏光を、その楕円偏光の楕円率に応じた方位を有する直線偏光に変換して、その直線偏光の方位を測定し、その測定した直線偏光の方位に基づいて前記試料Sのリターディションを求めるリターディション測定方法において、前記試料Sを通過して生じた楕円偏光を、上記位相差板式偏光方法によって直線偏光に変換する。

Claim (excerpt)：

任意の楕円率を有する楕円偏光を位相差板(F)に入射させて、その入射楕円偏光の楕円率に応じた方位を有する直線偏光に変換する位相差板式偏光方法であって、前記位相差板(F)を複数の位相差板(4),(5)により構成し、前記複数の位相差板(4),(5)夫々の中性軸の方向を、入射光の波長に応じた設定角度に調整する位相差板式偏光方法。