Pat

J-GLOBAL ID：200903063371445282

高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別する方法及びその装置

Inventor： 康 克軍 ,  胡 海峰 ,  謝 亞麗 ,  苗 齊田 ,  楊 ▲イ▼ガン ,  李 元景 ,  陳 志強 ,  王 學武
Applicant, Patent owner： 清華大學 ,  清華同方威視技術股▲ふん▼有限公司
Agent (2)： 池田 憲保 ,  福田 修一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006133483
Publication number (International publication number)：2007127617
Application date： May. 12, 2006
Publication date： May. 24, 2007
Summary：

【課題】高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線による材料識別の方法と装置を提供する。【解決手段】本発明の方法は、(a)高速中性子源及び連続エネルギー・スペクトルX線源でそれぞれ産生された高速中性子ビーム及び連続エネルギー・スペクトルX線ビームを被検対象に照射する;(b)X線検出器アレー及び中性子検出器アレーにて、透過したX線ビーム及び高速中性子ビームの強度を直接計測する;(c)被検対象の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う;ステップを含む。 高速中性子と連続エネルギー・スペクトルX線との透過減衰強度が異なるように構成され、被検対象の厚さと無関係に被検対象の等効原子番号Zとのみ関係するn-X曲線を利用して材料識別を行う。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別を行う方法であって (a)高速中性子源及び連続エネルギー・スペクトルX線源でそれぞれ産生された高速中性子ビーム及び連続エネルギー・スペクトルX線ビームを被検対象に照射する; (b)X線検出器アレー及び中性子検出器アレーにて、透過したX線ビーム及び高速中性子ビームの強度を直接計測する; (c)被検対象の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う;ステップを含むことを特徴とする方法。

IPC (6)：

G01N 23/05 ,  G01N 23/04 ,  G21K 5/02 ,  G21K 5/08 ,  H05H 3/06 ,  H05H 6/00

FI (7)：

G01N23/05 ,  G01N23/04 ,  G21K5/02 W ,  G21K5/02 N ,  G21K5/08 N ,  H05H3/06 ,  H05H6/00

F-Term (33)：

2G001AA01 ,  2G001AA04 ,  2G001AA10 ,  2G001AA20 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA04 ,  2G001CA10 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA08 ,  2G001EA06 ,  2G001FA01 ,  2G001FA29 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001KA01 ,  2G001LA20 ,  2G001PA11 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10 ,  2G085AA03 ,  2G085BA01 ,  2G085BA17 ,  2G085BE07 ,  2G085CA11 ,  2G085CA26 ,  2G085DA02 ,  2G085DA03 ,  2G085EA06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 国際公開第WO 2004/053472号パンフレット
  

Cited by examiner (12)

• 特表平6-503877
  
• 対象を分類するコンピュータ断層撮影装置および方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-531792   Applicant：アナロジックコーポレーション
• 特開平1-154000
  
• X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-044274   Applicant：株式会社日立メディコ
• 放射線撮影装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2005-502291   Applicant：コモンウェルスサイエンティフィックアンドインダストリアルリサーチオーガニゼーション
• X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-279980   Applicant：石川島播磨重工業株式会社
• 材質特定X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-260556   Applicant：株式会社島津製作所
• 放射線撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-015544   Applicant：株式会社島津製作所
• 水素含有量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-273280   Applicant：株式会社東芝
• 特開昭64-079648
  
• X線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-250366   Applicant：三菱原子力工業株式会社
• 内容物識別装置および内容物識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-230764   Applicant：株式会社日立エンジニアリングサービス

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ”原子炉(京都炉)と加速器による中性子ラジオグラフィ”