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J-GLOBAL ID：200903063393135830
レーザーイオン化質量分析装置及び質量分析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
田中 政浩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996230866
Publication number (International publication number)：1998074479
Application date： Aug. 30, 1996
Publication date： Mar. 17, 1998
Summary：
【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、高感度検出のための測定装置、および方法を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記パルスレーザー発振器が尖頭出力1MW以上の超短パルスレーザー光を発振しうるものであることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。
Claim (excerpt)：
分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記パルスレーザー発振器が尖頭出力1MW以上の超短パルスレーザー光を発振しうるものであることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
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質量スペクトル測定用手段を含む装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-225489
Applicant：アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
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レーザ支援による粒子分析
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-005690
Applicant：エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション
Article cited by the Patent：
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