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J-GLOBAL ID：200903063475704794

インタフェース試験器

Inventor：
北尾 恭一

About 北尾 恭一


Applicant, Patent owner：
エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社

About エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社


Agent (1)： 鈴木 正剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994100488
Publication number (International publication number)：1995307772
Application date： May. 16, 1994
Publication date： Nov. 21, 1995
Summary：
【要約】【目的】 データ伝送システムを構成する各装置の事前動作試験や擬似的な異常系試験、システム運用中における試験結果のモニタ等を、単純な構成で実現し得るインタフェース試験器を提供する。【構成】 任意の電文及び電文長からなる試験信号を生成する試験信号生成部101、試験対象装置の動作クロックに合致するクロックを含む内部クロックを発生するクロック発生部102、試験信号又は通信対象信号を発振回路出力に基づきクランプするAND回路108〜111、クランプ開始時期及びクランプ時間を制御するクランプ制御部106を備え、更に、試験信号又は通信対象信号を、ハイ・インピーダンス回路Rを介して出力処理部107に導く構成とする。出力処理部107には表示装置やプリンタ等を接続し、試験結果等を出力する。
Claim (excerpt)：
信号伝送を行う少なくとも二つの試験対象装置間の信号線を中継する信号中継手段と、中継した前記信号線からハイ・インピーダンス回路を介して伝送信号を抽出する信号抽出手段と、抽出した前記伝送信号を出力装置に出力するための出力処理を行う出力処理手段と、を有することを特徴とするインタフェース試験器。
IPC (5)：
H04L 29/14 ,  H04L 12/02 ,  H04L 12/24 ,  H04L 12/26 ,  H04M 3/26
FI (3)：
H04L 13/00 315 Z ,  H04L 11/02 D ,  H04L 11/08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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