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J-GLOBAL ID：200903063514497645

アンテナの放射指向性測定装置

Inventor： 久米 団治 ,  永嶋 正己 ,  西谷 新悟
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000175178
Publication number (International publication number)：2001349917
Application date： Jun. 12, 2000
Publication date： Dec. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】 被測定アンテナに対する極近傍界領域まで近づけても被測定アンテナが放射する電磁界に影響を与えないアンテナ放射指向性測定装置を提供する。【解決手段】 被測定アンテナとプローブアンテナとを相対的に面走査させ被測定アンテナが形成する2次元電界分布又は2次元磁界分布である干渉複素データ分布を測定し、被測定アンテナの放射指向性を測定するアンテナの放射指向性測定装置において、プローブアンテナをシールデッドループアンテナによって構成し、測定すべき電磁界を変形させることなく放射指向性を測定することができるアンテナの放射指向性測定装置を提供する。

Claim (excerpt)：

A、被測定アンテナとプローブアンテナとの相対的位置関係を面状に走査させる面走査装置と、上記面走査装置で面走査されるアンテナの走査面と、他方のアンテナとの間の距離を測定する距離測定器と、被測定アンテナから一定距離に配置された基準アンテナと、上記プローブアンテナと基準アンテナに誘起される信号から干渉複素データを測定する干渉測定器と、この干渉測定器の測定結果により被測定アンテナの放射指向性を演算し表示する演算表示装置とを具備して構成されるアンテナの放射指向性測定装置において、B、上記プローブアンテナをシールデッドループアンテナを用いた構成としたことを特徴とするアンテナの放射指向性測定装置。

IPC (2)：

G01R 29/10 ,  H01Q 7/04

FI (3)：

G01R 29/10 E ,  G01R 29/10 B ,  H01Q 7/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 電波可視化方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-106775   Applicant：株式会社アドバンテスト
• 比吸収率測定装置及び比吸収率測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-327029   Applicant：日本電気株式会社
• 磁束検出用コイルおよび磁束検出プローブ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-328808   Applicant：株式会社リコー