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J-GLOBAL ID：200903063526942628

光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラム

Inventor：
桑田 良隆

About 桑田 良隆


Applicant, Patent owner：
富士ゼロックス株式会社

About 富士ゼロックス株式会社


Agent (4)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005336340
Publication number (International publication number)：2006284550
Application date： Nov. 21, 2005
Publication date： Oct. 19, 2006
Summary：
【課題】被測定物に光沢むらがある場合であっても主観的光沢度と対応の取れた光沢度の評価値を算出することができる光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラムを提供する。【解決手段】エリアセンサ22Aは、被測定物12表面からの正反射光の所定画素毎の受光量に応じて画像情報を取得し、鏡面光沢度算出部32は、取得した画像情報の画素毎の受光量に基づいて画素毎の光沢度を算出し、評価値算出部38は、算出された前記光沢度に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を算出する。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
光源から光を照射して被測定物により反射された正反射光に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を求める光沢測定装置であって、 前記被測定物表面からの正反射光の所定画素毎の受光量に応じて画像情報を取得する取得手段と、 前記取得手段により取得された画像情報の画素毎の受光量に基づいて画素毎の光沢度を算出する画素光沢度算出手段と、 前記画素光沢度算出手段により算出された前記光沢度に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を算出する評価値算出手段と、 を備えた光沢測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/57
FI (1)：
G01N21/57
F-Term (20)：
2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE13 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ26 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
  • 光沢測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-115534   Applicant：ダイハツ工業株式会社
  • 光沢度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-132588   Applicant：株式会社豊田中央研究所
  • 光沢評価方法および装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-107219   Applicant：富士ゼロックス株式会社
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Cited by examiner (2)
  • 特開平3-220443
  • 光沢度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-132588   Applicant：株式会社豊田中央研究所
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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