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J-GLOBAL ID:200903063573776418
粒子検出システムおよび方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 西山 文俊
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006503538
Publication number (International publication number):2006518044
Application date: Feb. 12, 2004
Publication date: Aug. 03, 2006
Summary:
粒子を検出する装置および方法。流量管(16)は、8つの軸外れ楕円ミラー(20)により囲まれ、すべてのミラーは、流量管(16)の一部と一致する共通第1焦点を有し、それぞれのミラーは、別個の第2焦点を有する。一実施形態では、放射源(75)は、ミラー内の出口ポートと一致するように配列され、出口ポートはまた、それぞれの別個の第2焦点と一致する。これらの放射源(75)は、所定のシーケンスで時々刻々と(または、同時に)駆動され、光が対応する楕円ミラーを照明するようにさせる。この光は、流量管(16)の一部の中の共通第1焦点に照らす。第1焦点内の任意の粒子は、その後、光を散乱することになり、光源波長および粒子に応じて、ある蛍光量も提供することできる。このエネルギーは、検出器によって捕捉され、第1焦点における粒子のタイプ、サイズ、および量を決定するために解析される。
Claim (excerpt):
被検出粒子が通過して移動する通路と、
前記通路が通る検出器アセンブリと、
前記検出器アセンブリと通信する解析器とを備え、
前記検出器アセンブリは、少なくとも1つの励起源、ならびに、すべてが前記通路の一部と一致する共通第1焦点を有し、それぞれが別個の第2焦点を有する複数の軸外れ楕円ミラーを備え、前記ミラーのそれぞれは、前記ミラーが前記通路を囲むように、その中心が前記通路によって貫かれる円の周囲に沿って配列される、
粒子を検出する装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
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