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J-GLOBAL ID：200903063578040150

MS/MS型質量分析装置

Inventor： 廣岡 恵 ,  田中 靖文 ,  山本 善丈 ,  宮川 治彦 ,  永田 淳
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993351143
Publication number (International publication number)：1995201304
Application date： Dec. 29, 1993
Publication date： Aug. 04, 1995
Summary：

【要約】【目的】 第3段四重極Q3を通過してきた目的娘イオン16がイオンレンズ13により反発されることを防止し、高感度の分析を行なえるようにする。【構成】 イオンレンズ13のバイアス電圧VLを、目的親イオン15の質量Mpと目的娘イオン16の質量Md1との比に応じて変化させる。

Claim (excerpt)：

イオン源から送り込まれる粒子中、所定の質量を持つイオンのみを通過させる第1段四重極と、第1段四重極を通過したイオンである親イオンを開裂させる第2段四重極と、第2段四重極で生成されたイオン中、所定の質量を持つ娘イオンのみを通過させる第3段四重極と、第3段四重極を通過したイオンをイオン検出器に向けて集束させるイオンレンズとを備えたMS/MS型質量分析装置において、イオンレンズのバイアス電圧を、上記所定の親イオンの質量と上記所定の娘イオンの質量との比に応じて変化させることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-264546
  
• 特公昭48-003596
  
• 特開昭58-023157